Diferença entre TEM e SEM

TEM vs SEM

Tanto o SEM (microscópio eletrônico de varredura / microscopia) quanto o TEM (microscópio eletrônico de transmissão / microscopia) referem-se ao instrumento e ao método usado na microscopia eletrônica.

Há uma variedade de semelhanças entre os dois. Ambos são tipos de microscópios eletrônicos e oferecem a possibilidade de ver, estudar e examinar pequenas partículas subatômicas ou composições de uma amostra. Ambos também usam elétrons (especificamente feixes de elétrons), a carga negativa de um átomo. Além disso, é necessário que as duas amostras em uso sejam "manchadas" ou misturadas com um elemento específico para produzir imagens. As imagens produzidas com esses instrumentos são altamente ampliadas e possuem alta resolução.

No entanto, um SEM e TEM também compartilham algumas diferenças. O método usado no SEM é baseado em elétrons dispersos, enquanto o TEM é baseado em elétrons transmitidos. Os elétrons espalhados no SEM são classificados como elétrons retroespalhados ou secundários. No entanto, não há outra classificação de elétrons no TEM.

Os elétrons espalhados no MEV produziram a imagem da amostra depois que o microscópio coleta e conta os elétrons espalhados. No TEM, os elétrons são diretamente apontados para a amostra. Os elétrons que passam pela amostra são as partes que são iluminadas na imagem.
O foco da análise também é diferente. O SEM foca na superfície da amostra e sua composição. Por outro lado, o TEM procura ver o que está dentro ou além da superfície. O SEM também mostra a amostra pouco a pouco, enquanto o TEM mostra a amostra como um todo. O SEM também fornece uma imagem tridimensional, enquanto o TEM fornece uma imagem bidimensional.

Em termos de ampliação e resolução, o TEM tem uma vantagem em comparação com o SEM. O TEM tem um nível de ampliação de até 50 milhões, enquanto o SEM oferece apenas 2 milhões como um nível máximo de ampliação. A resolução do TEM é de 0,5 angstroms, enquanto o SEM tem 0,4 nanômetros. No entanto, as imagens SEM têm melhor profundidade de campo em comparação com as imagens produzidas em TEM.
Outro ponto de diferença é a espessura da amostra, "coloração" e preparações. A amostra em TEM é mais fina em contraste com uma amostra SEM. Além disso, uma amostra SEM é "manchada" por um elemento que captura os elétrons dispersos.

No SEM, a amostra é preparada em tocos de alumínio especializados e colocada na parte inferior da câmara do instrumento. A imagem da amostra é projetada na tela do tipo CRT ou televisão.
Por outro lado, o TEM exige que a amostra seja preparada em uma grade de TEM e colocada no meio da câmara especializada do microscópio. A imagem é produzida pelo microscópio através de telas fluorescentes.

Outra característica do SEM é que a área onde a amostra é colocada pode ser girada em diferentes ângulos.
O TEM foi desenvolvido antes do SEM. O TEM foi inventado por Max Knoll e Ernst Ruska em 1931. Enquanto isso, o SEM foi criado em 1942. Foi desenvolvido posteriormente devido à complexidade do processo de digitalização da máquina.

Resumo:

1. Ambos SEM e TEM são dois tipos de microscópios eletrônicos e são ferramentas para visualizar e examinar pequenas amostras. Ambos os instrumentos usam elétrons ou feixes de elétrons. As imagens produzidas nas duas ferramentas são altamente ampliadas e oferecem alta resolução.
2.Como cada microscópio funciona é muito diferente do outro. O SEM varre a superfície da amostra liberando elétrons e fazendo com que os elétrons saltem ou se espalhem com o impacto. A máquina coleta os elétrons dispersos e produz uma imagem. A imagem é visualizada em uma tela de televisão. Por outro lado, o TEM processa a amostra direcionando um feixe de elétrons através da amostra. O resultado é visto usando uma tela fluorescente.
3. As imagens também são um ponto de diferença entre duas ferramentas. As imagens SEM são tridimensionais e são representações precisas, enquanto as imagens TEM são bidimensionais e podem exigir um pouco de interpretação. Em termos de resolução e ampliação, o TEM ganha mais vantagens em comparação com o SEM.